同軸白光測量系統(tǒng)

VAS FOR INSPEC

Vertical Axial Scanner

1. MICRO.VU影像測量儀可以結合使用垂直同軸白光激光系統(tǒng)

2. 可測量范圍從500μm-10000um，工作距離12.7 mm-71.5mm

3. 支持在MICRO.VU VERTEX261,341,342,Excel 511, 701, 901, 1301, 1701和2500這幾個型號上配合影像測量使用

4. 小光斑尺寸，適合測量玻璃，拋光金屬，陶瓷和涂層等材質的產品

技術規(guī)格

特色

1. 非接觸式測量，無磨損，抗干擾

2. 距離和形貌

3. 寬泛的厚度測量范圍, 適用于所有表面

4. 強勁的測量能力,自動光量控制